產(chǎn)品特性

• 一體化源測集成：將50W TEC控制器與精密直流測量功能合二為一，無需額外搭配電源、萬用表，簡化系統(tǒng)集成，降低采購與維護(hù)成本，實(shí)時(shí)同步監(jiān)測并顯示溫度、電流、電壓及傳感器電阻參數(shù)。

• 極致溫控性能：采用全數(shù)字可編程PID控制，支持P/I/D增益獨(dú)立調(diào)節(jié)，溫控范圍覆蓋-50℃~+225℃，設(shè)定分辨率達(dá)0.001℃，短期穩(wěn)定性±0.005℃ RMS，避免溫度波動導(dǎo)致器件性能偏移。

• 多重防護(hù)與適配：軟硬件雙重限值保護(hù)（電流1.0~5.25A、電壓±0.5~10.5V），兼容熱敏電阻、RTD、溫度控制IC，支持四線制連接，搭配開路/短路檢測，消除引線誤差，保障設(shè)備與被測器件安全。

• 自動化高效兼容：標(biāo)配GPIB、RS-232接口，支持SCPI指令集與多設(shè)備同步觸發(fā)，半機(jī)架緊湊型設(shè)計(jì)（42.4mm寬度），適配全球?qū)掚妷海?00-240V AC），無縫融入批量生產(chǎn)自動化測試系統(tǒng)。

• 精準(zhǔn)故障檢測：內(nèi)置交流歐姆測量功能，可精準(zhǔn)檢測TEC機(jī)械損傷與接觸不良，為器件質(zhì)量管控提供額外數(shù)據(jù)支撐，降低測試誤判風(fēng)險(xiǎn)。

技術(shù)參數(shù)

溫控性能

• 控溫范圍：-50℃~+225℃，過溫保護(hù)限值250℃

• 設(shè)定分辨率：0.001℃，短期穩(wěn)定性±0.005℃ RMS（24小時(shí)，25℃±0.5℃）

• 控制方式：數(shù)字可編程PID，支持P/I/D增益獨(dú)立調(diào)節(jié)

• 兼容傳感器：熱敏電阻、RTD、溫度控制IC，支持四線制連接

TEC輸出與保護(hù)

• 輸出規(guī)格：±10V/±5A，額定功率50W，輸出紋波＜5mV RMS（10Hz~10MHz）

• 保護(hù)機(jī)制：硬件電流限制1.0~5.25A（±5%），軟件電壓限制±0.5~10.5V（±5%）

測量精度（23℃±5℃，預(yù)熱30分鐘，1年精度）

• 電壓：±(0.1%讀數(shù)+4mV)，電流：±(0.4%讀數(shù)+8mA)

• 工作電阻：±(2.0%讀數(shù)+0.1Ω)，交流電阻：±(0.10%讀數(shù)+0.02Ω)

系統(tǒng)與結(jié)構(gòu)

• 接口：GPIB、RS-232，支持SCPI指令與多設(shè)備同步

• 結(jié)構(gòu)：半機(jī)架寬度42.4mm，適配100-240V AC寬電壓

• 輔助功能：交流歐姆測量、四線開路/短路檢測

應(yīng)用場景

• 光纖通信領(lǐng)域：激光二極管模塊LIV（光-電-壓）連續(xù)波測試，保障激光器波長穩(wěn)定性，提升光模塊量產(chǎn)一致性。

• 光電探測領(lǐng)域：紅外CCD陣列、電荷注入器件（CID）及冷卻光電探測器的溫度控制測試，確保探測精度。

• 組件校準(zhǔn)領(lǐng)域：熱光開關(guān)、溫控夾具等光電組件的生產(chǎn)校準(zhǔn)與性能驗(yàn)證，強(qiáng)化產(chǎn)品質(zhì)量管控。

• 器件檢測領(lǐng)域：熱電冷卻器（珀?duì)柼骷┑奶匦苑治雠c質(zhì)量檢測，精準(zhǔn)識別機(jī)械損傷與性能缺陷。

• 科研測試領(lǐng)域：光電器件高低溫環(huán)境模擬實(shí)驗(yàn)，為材料特性研究提供穩(wěn)定溫控支撐。

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